?電學測量設備?：可以和各類源表、數字萬用表等電學設備聯用，測量電阻率、seebeck、l-V曲線等。

?光譜儀?：可以配合各種光譜儀使用，在低溫環境下進行光譜測量時，能夠提供穩定的低溫環境，。

?電磁鐵?：可以配合電磁鐵使用，特別是在需要磁場環境下的實驗中，能夠提供穩定的低溫磁場環境。

?顯微鏡?：可以配合顯微鏡使用，特別是在低溫顯微成像實驗中，能夠提供低溫環境，滿足特殊需求。

?力學測試設備?：可用于需要低溫環境的力學測試中，如：與拉伸機配合在低溫溫條件下進行材料應力應變測試。

電學測量設備?：可以和各類源表、數字萬用表等電學設備聯用，測量電阻率、seebeck、l-V曲線等。

?光譜儀?：可以配合各種光譜儀使用，在低溫環境下進行光譜測量時，能夠提供穩定的低溫環境，。

?電磁鐵?：可以配合電磁鐵使用，特別是在需要磁場環境下的實驗中，能夠提供穩定的低溫磁場環境。

?顯微鏡?：可以配合顯微鏡使用，特別是在低溫顯微成像實驗中，能夠提供低溫環境，滿足特殊需求。

?力學測試設備?：可用于需要低溫環境的力學測試中，如：與拉伸機配合在低溫溫條件下進行材料應力應變測試。