不同測試場景對應(yīng)不同的專用儀器，覆蓋從基礎(chǔ)參數(shù)到特殊性能的全維度測試需求。

基礎(chǔ)通用類儀器是電性能測試的入門標(biāo)配，數(shù)字萬用表可以完成基礎(chǔ)的電壓、電流、電阻、通斷測試，是PCB板級故障排查、電源輸出驗證的常用工具。示波器用來捕捉瞬態(tài)信號、分析時序問題，LCR表也就是阻抗分析儀，能測量電感、電容、電阻等被動元件參數(shù)，電源負載儀可完成電源紋波、轉(zhuǎn)換效率的相關(guān)測試，耐壓測試儀則用于驗證電氣設(shè)備的絕緣**性能，頻譜分析儀可支持EMI預(yù)兼容測試、射頻電路調(diào)試工作。

材料專項測試類儀器針對不同的電性能維度做了定向優(yōu)化，材料電輸運性質(zhì)測量系統(tǒng)可完成磁阻、變溫電阻、I-V特性、霍爾效應(yīng)、方塊電阻等多類參數(shù)測試，擊穿電壓測試儀專門用于薄膜、層壓材料的介電強度、漏電流試驗，工頻介電常數(shù)測試儀用來測量絕緣材料的介質(zhì)損耗角正切值，塊體鐵電材料電滯回線測試設(shè)備可完成動態(tài)電滯回線、泄漏電流、壓電、熱釋電等多類參數(shù)測量，體積電阻率測試儀則專門適配電線電纜半導(dǎo)電橡塑材料的電阻率測試需求。

半導(dǎo)體與器件專用類儀器面向功率半導(dǎo)體、芯片等*端器件的測試場景，半導(dǎo)體綜合測試儀可以測量二極管導(dǎo)通電壓、晶體管放大倍數(shù)等芯片核心參數(shù)，器件電流波形分析儀用于捕捉芯片啟動浪涌電流、監(jiān)測高頻運算時的電流脈沖，動態(tài)測試設(shè)備專門檢測功率器件開通關(guān)斷瞬間的電壓電流變化速率、開關(guān)延遲時間及損耗，三廂式高低溫沖擊實驗器用來模擬*端溫差工況，驗證半導(dǎo)體器件在極限環(huán)境下的電性能穩(wěn)定性。

電能質(zhì)量類儀器面向電力系統(tǒng)場景，電能質(zhì)量分析儀可完成電壓、電流、功率、諧波、三相不平衡度等多類電參數(shù)的綜合監(jiān)測，電參數(shù)綜合測量儀采用高速ADC+DSP的硬件架構(gòu)，支持真有效值測量，適配復(fù)雜波形失真場景下的電參數(shù)采集，廣泛應(yīng)用于電機、變壓器、發(fā)電機組等機電設(shè)備的性能測試與能耗監(jiān)測。